6月1日消息 荷蘭ASML公司近日在官網(wǎng)宣布，完成了用于5nm及更先進(jìn)工藝的第一代HMI多光束檢測(cè)機(jī)HMI eScan1000的測(cè)試。

　　據(jù)介紹，HMI eScan1000能夠同時(shí)產(chǎn)生、控制九道電子束，與單個(gè)電子束檢查工具相比，將使吞吐量提高達(dá)600%。

　　據(jù)了解，新的MBI系統(tǒng)包括一個(gè)電子光學(xué)系統(tǒng)，能夠創(chuàng)建和控制多個(gè)初級(jí)電子波束，然后收集和處理產(chǎn)生的次級(jí)電子波束，將波束之間的串?dāng)_限制在2%以內(nèi)，并提供一致的成像質(zhì)量。它還具有提高系統(tǒng)總體吞吐量的高速階段和實(shí)時(shí)處理來(lái)自多個(gè)波束的數(shù)據(jù)流的高速計(jì)算體系結(jié)構(gòu)。

　　目前，首臺(tái)多波束檢測(cè)系統(tǒng)已于本周交付客戶進(jìn)行鑒定。ASML計(jì)劃增加光束數(shù)量和光束分辨率，以滿足未來(lái)幾代芯片制造商的產(chǎn)品路線圖要求。

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